• Tidak ada hasil yang ditemukan

Karakterisasi Koreksi Pelebaran Puncak Dan 2Θo Pada Analisis Difraksi Sinar-X

N/A
N/A
Info
Unduh - Bebas
Protected

Academic year: 2021

Membagikan "Karakterisasi Koreksi Pelebaran Puncak Dan 2Θo Pada Analisis Difraksi Sinar-X"

Copied!
108
0
0

Memuat.... (Lihat teks lengkap sekarang)

Unduh sekarang ( 108 Halaman )

Teks penuh

Loading

Gambar

Tabel 2.1 Shape Function (PSF) yang Digunakan dalam Penelitian .. 14 Tabel 2.2 Hubungan karakter puncak difraksi dan parameter-parameter
Gambar 1.1 Ilustrasi Kontribusi Profil Instrumen (g) pada Profil Puncak Difraksi Terukur ( h) (Pratapa, 2009)
Gambar 1.2 Ilustrasi Geometri Difraktometer Sinar-X
Gambar 2.2 Profil puncak difraksi yang mengilustrasikan definisi puncak dan FWHM (Speakman, 2007)
+7

Referensi

Unduh sekarang ( PDF - 108 Halaman - 2.76 MB )

Garis besar

METODE PENELITIAN Analisis Ukuran Kristal

Dokumen terkait

Sintesis dan Karakterisasi Material Graphene Oxide Berbahan Dasar Limbah Karbon Baterai ZnC Menggunakan Kombinasi Metode Liquid-Phase Exfoliation dan Radiasi Sinar-X dengan Variasi Waktu Radiasi Berdasarkan Uji UV-Vis Spektrofotometer.

Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh variasi waktu radiasi terhadap karakteristik material GO hasil sintesis menggunakan kombinasi metode LE dan radiasi sinar-X

ANALISIS KUALITATIF DENGAN MENGGUNAKAN TEKNIK DIFRAKSI SINAR X PADA PENAMBAHAN UNSUR Zr TERHADAP PEMBENTUKAN FASA PADUAN U-Zr

Dari pengujian fasa dengan menggunakan teknik difraksi sinar x tersebut dapat dikatakan bahwa penambahan unsur Zr pada pemaduan U-Zr akan menaikkan jumlah fasa

Image