• Tidak ada hasil yang ditemukan

April 1995 - EPrints USM

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2024

Membagikan "April 1995 - EPrints USM"

Copied!
4
0
0

Teks penuh

(1)

UNIVERSITI SAINS MALAYSIA

Peperiksaan Semester Kedua Sidang Akadernik 1 994/95

April 1995

EPB 415/3 Bahan Semikonduktor

Il

ARAI'IAN KEPADA CALON

Sila pastikan bahawa kertas soalan ini mengandungi EMPAT (4) mukasurat bercetak.

Kertas soalan ini mengandungi ENAM (6) soalan semuanya.

Jawab LIMA

(5)

soalan sahaja.

Semua jawapan mestilah dimulakan pada mukasurat baru.

Semua soalan mestilah diiawab didalam Bahasa Malavsia.

7L

...21-

(2)

IEBB 41sl3l

Terangkan dan gambarkan suatu teknik pengeluaran hablur tunggal silikon yang besar untuk industri semikonduktor. Apakah penghadan yang terdapat pada kaedah pertumbuhan hablur tunggal secara zon-apung.

{50 markah)

Apa yang boleh menyebabkan hujung hablur yang bersentuhan dengan benih mempunyai kerintangan yang lebih tinggi berbanding dengan ekor hablur didalam kaedah pertumbuhan hablur Czochralski?

(20 markah)

Suatu perintang te*amildiperbuat dengan dua-langkah p€resapan boron ke

dalam

lapisan jenis-n. Kedalaman simpangan diukur sebagai

2.5 pm.

Carikan

rintangan lapisan bagi kawasan teresap yang mempunyai kekonduksian purata

20 (fr sm)'1 (30 markah)

lal Apakah faktor yang memberi kesan kepada kadar resapan di dalam hablur

pepejal. (25 markah)

lbl

Boron diresapkan ke dalam sekeping silikon tebalyang tidak mempunyai sebarang kandungan boron sebelum ini, pada suhu 1100 oC selama 5 jam.

Apakah kedalaman di bawah permukaan apabila kepekatan pendop ialah g x 1017 atom/sms dan kepekatan permukaan ialah 1018

atorn/stt?

And"ik"n pemalar resapan ialah 4 x 10-13 smz/s pada 1100

oC.

(Jadual ralat diberikan di bawah).

Jadual

l:

erfc z

z

erfc z

z erlc

z

o

60

0.39614

1.50

0.03390

0.70

a32220

1.60

0.02365

0.80

0.25790

1.70

0.01621

0.90

0.20309

1.80

0.01091

1.00

0.15730

1.90

0.00721

1.10

0,11980

2.00

0.00468

1.20

0.08969

2,1A

0.00298

1.30

0.06599

2.2A

0.00186

1.40

0.04772

2.30

0.00114

i50 markah) ...3/'

-2-

lal

1.

tbl

lcl

2.

72

(3)

IEBB 41sl3]

[c]

Berikan dua pengukuran yang biasa digunakan untuk mengukur peresapan ke dalam wafer silikon. Bolehkah kita mendapatkan suatu pengukuran tepat bagi kerintangan hasil dari peresapan? Terangkalr.

(25 markah)

lal

Takrifkan fotolitografi.

Apakah fotorintang? Berikan dua jenis fotorirrtang yang boleh digunakan untuk memunar kimia saput dan bahan-bahan yang digunakan didalam pembuatan semikonduktor.

Terangkan dengan ringkas suatu kaedah yarg paling umum dan memuaskan untuk rnengenakan fotorintang semasa pemb uatan peranti semikondukor.

(60 markah)

tb]

Terangkan dengan ringkas proses penanaman ion? semasa penanaman ion, apakah dua masalah yang terdapat di dalam substrak yang boleh diatasidengan sepuh lindap terma?

(40 markah)

Dengan bantuan rajah-rajah aras tenaga, rerirngkan pembentukkan sentuhan pembetulan antara suatu semiconduktor jenir;-n dengan suatu logam.

(50 markah)

Kenapa keputusan-keputusan eksperimen tielak sama dengan apa yang diramalkan oleh teori simpang logam-semikonduktor?

(20 markah)

Sentuhan pembetulan adalah tidak berguna dan mestidielakkan jika digunakan sebagai sentuhan antara peranti-preranti. Bagaimanakah ini boleh dicapai?

(30 markah)

-3-

3.

4. laI

tbI

lcl

73

...4t-

(4)

IEBB 415/3J

lal Dalam lapisan-lapisan epitaksi semikonduktor, apakah yang dimaksudkan

dengan istilah'tak-sepadan'? (10 markah)

tbl

Dalam epitaksi alur molekul dan epitaksi alur kimia, rnekanisme pertumbuhan lapisan-lapisan epitaksi dikaitkan dengan ketibaan atom-atorn endapan ke atas permukaan substrat. Bincangkan perbezaan diantara kedua-dua mod

pertumbuhan yang dinyatakan di bawah'

il

pertumbuhan laPisan mono

iil

pertumbuhan nukleus (50 markah)

Bincangkan pembentukkan kecacatan'kecacatan dalam lapisan-lapisan semikonduktor epitaksi homo dan epitaksi hetero.

(40 markah)

Kenapa amorfus silikon sebenarnya adalah satu aloi silikon-hidrogen?

(10 markah)

Tunjukkan bahawa kesan ke atas ketumpatan adalah kecil, jika hidrogen sebanyak 20% atom ditambah ke dalarn suatu silikon amorfus yang tulen. Data yang diberikan dalam jadual di bawah boleh digunakan dalam pengiraan anda.

(50 markah)

Tulis nota-nota pendek mengenai tajuk-tajuk penyediaan semikonduffior amorfus yang dinyatakan di bawah

il

Penguraian nyahcas bara.

iil

Penyejatan haba

-4-

5.

lcl

6. lal

lbt

lcl

Ketumpatan silikon amorfus yang tulen

Jisim atom H (amu)

Jisim atom Si (amu)

2.3 g cm's 1.008 28,09

74

-oooOooo-

(40 markah)

Referensi

Dokumen terkait

40 markah Rawatan haba yang mana satukah yang akan anda pertirnbangkan sesuai bagi komponen kejuruteraan yang mongalami tegasan dinamik dan kenapa?. 20 markah ...6/- -5 A lal o,

a Lengkapkan persamaan kebezaan untuk gerakan bagi sistem yang ditunjukkan didalam rajah 6, dengan andaian bahawa rod adalah ringan dan kaku, dan dapatkan ungkapan untuk pekali

IKUA 114lKAr 21r-l kimia yang penting yang mesti penLitratan boleh dijalankan 5 markab b Besi dalam suatu bijih dianalisiskan secara gravimetri dengan dimendakan sebagai Fe2o3

c a IEEE 126l Untuk litar dalam Rajah 5.1, beban dikehendaki menjadi rintangan tulen R1 Apakah nilai Rl yang akan menyerap kuasa purata maksimum dan apakah nilai kuasa ini.. 20%

The dirnensions of the cross section in milimeters for the shaft and tube are as shown- If a torque of 8 kNm is apptied to both ends of the composite shaft, ftnd lij sudut piuh

Sila ielaskan dengan tepat bersama-sama contoh yang sesuai 25 markah c Bahan seramik terdiri dari satu senarai yang panjang yang masing- masing mempunyai ciri-ciri tertentu.. 01eh

UNIVERSITI SAINS MALAYSIA Peperiksaan Semester Kedua Sidang 1994195 April, 1995 AAP4O3 - PERNIAGAAN KERAJAAN & MASYARAKAT Masa: [2 janil ARAHAN Sila pastikan bahawa kertas

Dengan menggunakan analisa siri Fourier, cari dan lakarkan frekuensi yang di tunjukkan di dalam Rajah Q3a spektrum isyarat a0 markah Rajah O3a 3b Isyarat sepertimana yang