• Tidak ada hasil yang ditemukan

EEE 409 TEKNOLOGI SEMIKONDUKTOR SIDANG 1987 88

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2024

Membagikan "EEE 409 TEKNOLOGI SEMIKONDUKTOR SIDANG 1987 88"

Copied!
20
0
0

Teks penuh

(1)

UNIVERSITI SAINS I{ALAYSIA

Peperiksaan Semesler Pertama

Sidang I9B7/BB

EEE

409

Teknoloqi # Semikonduktor

II

Tar.ikh:

31 Oktober 1 987

Ivlasa:

9.00

pagi - j2.00

tengahari

(3

Jam)

ARAHAN KEPADA CATON:

Sila paslikan

bahawa

kertas

peperiksaan

ini

mengandungi

9

muka

surat berserta

lampiran

( I1

muka

surat)

yang bercetak sebelum anda memulakan peperiksaan

ini.

Jawab mana-mana LIMA

(5)

soalan.

Setiap

soalan mempunyai agihan markah yang sama.

Jawab kesemua soal-an

di

dalam Bahasa Malaysia.

Peraturan Rekabentuk

bagi

Proses CISG adalah

seperti di

Lampiran

rF' (

6 muka

surat ).

3

s;'

...2/_

(2)

B

c

A B

c

-2-

lnnn aool

].

Rajah

Q.l

menunjukkan

satu litar

gabungan dengan

output

X dan Y.

Nyatakan

fungsi litar

tersebut.

Dengan menggunakan formula

berikut

6 = fn(A, Br Cr

.

)

untuk rangkaian

transistor

nl{OS

O

= fn(E, E, e,

.

)

untuk rangkaian

transistor

pl'lOS

dapatkan

litar

CMOS

statik

untuk

litar

gabungan

Q.l tersebut.

(sor)

Rajah Q.I

36o

...3/_

(3)

2.

-3-

Jika

beban l.OpF

terdapat

pada

output

X dan

Y,

anggarkan

nisbah-nisbah untuk

transistor-transistor

nMOS dan pMOS

supaya gabungan kesefuruhan nisbah-nisbah

ini

dapat memuaskan

Bn

# = f

dal-am keadaan rworst

case'.

Anggapkan bahawa

mobiliti

-p

elektron

adalah

3 kali lebih

besar daripada

mobiliti

lubang- (50*)

Nyatakan langkah-langkah utama dalam proses

fabrikasi litar

CMOS.

(25?^)

Rajah

Q.2

(Lampiran

'A')

menunjukkan

satu 'layoutr get

NAND

yang mewakili topeng-topeng untuk aras-aras yang

tertentu di atas silikon.

Pada garisan yang bertanda X

- Xr

bagi

setiap

topeng yang

terdapat di

Rajah

Q.2, lukiskan 'cross- section' struktur fizikal get

NAND

di atas silikon

mengikut langkah-langkah utama proses

fabrikasi litar

CMOS. Berikan penerangan

lanjut,

tentang proses-proses yang

terlibat

bagi

setiap

langkah.

IEEE 4o9l

35;

(75r)

...4/-

(4)

-4-

3.

Terangkan keLebihan peraturan rekabentuk berasaskan rlambdal dibandingkan dengan peraturan rekabentuk berasaskan 'micronr -

(2or)

Rajah

0.3(a)

(Lampiran

'B')

menunjukkan

satu rlayout'

menggunakan peraturan rekabentuk berasaskan rmicronr yang

mempunyai beberapa

ralat

peraturan

rekabentuk.

Kenalpastikan

ralat-ralat

peraturan rekabentuk yang

terdapat

pada rlayoutr

tersebut.

Gunakan Lampiran

rFr

sebagai trnnduan.

(3or)

Daripada

'layout'

yang

terdapat

pada Rajah

0.3(a)r

dapatkan

Iitar

CMOS

statiknya.

Laksanakan

litar statik

CI4OS yang anda

perolehi di atas 'gate-array'

yang ditunjukkan

di

Rajah a.3(b)

(Lampiran

'C').

Gunakan METAL

I

dan IvIETAL

II saja

untuk

membuat penyambungan

di antara transistor-transistor

yang

terdapat pada'gate-arrayr tersebut.

Perhatikan syarat-syarat yang

terdapat di

Rajah 9.3(b)

(5o8)

IEEE 4oel

3?C

...5/_

(5)

-5-

4. Berikut

adalah

satu fungsi logik

S-pembolehubah yang terpaksa dilaksanakan menggunakan

litar

CMOS

statik:-

f=aEdDn+ EdDE+ EeDe+ EcoE+

aEcDn

+

EcDe

+

BDE

+

ACoE

+

cDE

+

ednE

Kurangkan

fungsi logik ini

dengan menggunakan Peta Karnaugh dan seterusnya lakarkan

litar

CII{OS

statik

yang

diperolehi.

(5os)

Lakarkan

rajah ranting

untuk

litar

yang

diperolehi

dengan menggunakan

teknologi rsingle metalr single poly'

mengikut peraturan

di

bawah:-

(a) lokasi transistor

pMOS hanya dibenarkan dalam

satu baris atas

saja.

(b) lokasi transistor

nl4OS hanya dibenarkan dalam

satu baris

bawah saja.

(c)

METAL

I

mesti digunakan secara mengufuk

(horizontal) saja.

(d)

POLY mesti digunakan secara menegak

(vertical) saja.

IEEE 4o9l

37;

(sor)

...6/-

(6)

-6-

IEEE 4o9l

5.

Anda dikehendaki merekabentuk lampu amaran ISILA PASANGKAN TALI

KELEDART yang mudah untuk model Proton Saga yang baru.

Spesifikasinya adalah

seperti berikut:-

Sensor pengesan

berat

(weight sensors)

diletakkan di

bawah

setiap

tempat duduk depan (dua

saja) kereta

Proton Saga

untuk mengesan sama ada tempat duduk

tersebut

diduduki

atau tidak. Suis tali

keledar sentiasa berada

di

dalam

keadaan 'TINGGI' sehingga

tali

keledar dipasang'

Apabila

suis enjin kereta

dipasangkanr

jika satu

ATAU

kedua sensor-sensor

tersebut

adalah dalam keadaan

logik

TTINGGITT lampu amaran 'SILA PASANGKAN TALI KELEDART akan menyala sehingga

tali

keledar

dipasang.

Sensor-sensor dan lampu afiElran

tidak

akan beroperasi

jika suis enjin kereta

dimatikan.

Berasaskan

spesifikasi inir

anda dikehendaki merekabentuk

litar logik ini

mengikut pendekatan rstandard

cellr

menggunakan

bilangan

sel-sel

yang

paling

minimum. Anda hanya

diberi

bilangan

sel-sel

yang terhad

seperti

yang

terdapat

dalam

tdirectory"'cad$dist<: Iimkth.austcells] seperti berikut:-

Kod SeI

Jenis

Sel

MO20R4 MO3AA2 MO2ZZL MO4NA5 MO2AA2 t404N05 M040R5

2-Input

OR gate

3-Input

AND gate

Vertical

Feedthrough

4-Input

NAlilD gate

2-Input

Al{D gate

4-Input

llOR gate 4-InpuL OR gate

37i

...7/_

(7)

-7-

IEEE 40el

Contoh

sel-se1 ini

adalah

seperti

yang ditunjukkan

di

Rajah

Q.5(a)

(tampiran

'D')

dan

O.5(b)

(r.ampiran'D') untuk

sel 2-input

dan

4-input

masing-masing.

Dalam rekabentuk anda, anda mesti mengikut langkah-Iangkah

berikut:-

(a)

Pertamar sediakan

jadual

kebenaran dan skematik logiknya.

Beri

nama-nama yang sesuai untuk

port-port input

dan

output di atas

skematik anda.

( 30r)

(b)

Keduar berasaskan

sel-sel

yang anda

pilihr

lakarkan

rlayout'

secara kasar untuk menyambung

sel-sel

tersebut.

Anda boleh menggunakan tttETAL

I

atau POLY atau keduaduanya.

( 20r)

(c) Ketigar

dengan menggunakan

set

bahasa

rproceduralr

PAC

seperti

yang

terdapat di

Rajah

0.5(c)

(r,ampiran

'E'), tuliskan satu aturcara

PAC yang boleh menjana

rlayoutl Iitar tersebut

(ead-pad

I,/o tidak diperlukan).

(sor)

3?,

...9/-

(8)

-8-

leee aogl

6. Beri

kelebihan dan keburukan TII{ODS (Timing II{OS

Digital

Sirm:lator)

jika

dibandingkan dengan SPICE.

( 208)

Terangkan apa yang anda fahamkan dengan maksud

simulator jenis

revent-drivenr.

(308)

Berikan penerangan tentang model elemen

get seperti

NAND, I{OR,

dan

lain-lain

dalam TNODS termasuk rnodel

'timing'nya.

Selanjutnyar untuk mencatrni

kestabilan

dalam Tl{ODSr terangkan

prinsip

dominans.

(50r)

7.

Anda baru

saja dilantik

sebagai Pengurus Projek untuk

merekabentuk

satu cip

perhulcungan (conrnunication

chip)

menggunakan

teknologi

CI{OS

2.5 um. Cip ini

mengandungi nodul-modul RAMI

Pengawal

(Controller), rParallel Multiplier/Accunnrlatort

dan ALU

(Arithmetic

Logic

Unit).

Anda hanya

diberi 4

orang

jurutera

rekabentuk yang

tidak

mempunyai

pengalarnan. Anda dikehendaki merekabentuk

cip tersebut

dalam masa

6

bulan untuk

satu aplikasi

khas yang rnemerlukan 5000 unit,,

Prestasi cip tidak begitu kritikal tetapi

mesti beroperasi dalam Iingkungan 10O kttz.

...e/-

ftrt.

,6

tz

(9)

-9-

IEEE 4o9l

Anda

diberi pilihan

untuk menggunakan pendekatan rgate-arrayrr rstandard

cell/macrocellr atau 'full custom'.

Nyatakan

pilihan

anda dan

beri

sebab-sebab kenapa

pilihan itu dibuat.

(40*)

llyatakan bagaimana anda menlrusun pasukan anda dan sebutkan

kaedah relcabentuk yang

diikut,i.

Berikan kelebihan dan kekurangan kaedah

tersebut.

(3os)

Oleh kerana

jurutera-jurutera

anda

tidak

berpengaldllEillr anda tergnksa menerangkan langkah-langkah yang

perlu

untuk

merekabentuk

cip

menggunakan

perisian

CAD bermula dengan

mengenal;nsti keperluan sistem sehingga

cip tersebut

dihantar

ke loji fabrikasi

untuk

diproses.

Nyatakan.

(30r)

-ooo0ooo-

,Jl,t

(10)

lnne aogl

LAI4PIRAN

A

Rajah Q.2

37";

(11)

[EEE 40e]

LAIvlPIgry

s

Rajah e.3(a)

Ident:

MIMOS: IGHAZIE.SYMLO] USMEXAM.AF4:

7 Cneated:

18-SEP-87 09: 19:55

t

+,--*--.

\/tt ll

li tl

tl

tl

_) L

IJIJU*''

J

3is

(12)

LATjPTRAN F

-

(VI)

Des i

on

ru I

es 3u

CHOS

I/ersion 1.0

4.L2

SUBSTRATE CONTACTS

The following rules aPPIY Eo

N+

For the oEher t,YPes of

subs t raLe

secLion 4.5 valid.

wcu wcu 5N ICH SCUNI

: Hinlmum contact overlaP of P+ area : Hinlmurn contact overlap of. N+ area : Minlmum spacing N+imPlant edge to

to P+ butt,ing contacts.

contacts are the rules

gate in direction of diffusion.

.

Mlnimurn spaclng N+imPIant edge to substrate conLact (cut,s).

.

IEEE 4o9]

of 4um 4um 5um 1um

T;;r

_r_ _ l-

I

I

-+

L

L_

Subst.rai.e

--l

contacts

Contacts betneen VSS and

P-we I

I

anci V00 and subst rate shoulcl be maci

e

as ol

ten

as

conven

ient, but at least

one contact Pen

well

ancl one

t

$ 3eveny 1?5 um.
(13)

t"r,

aogl

LAMPIRAN F

-

(V)

Desion rules 3u

CHOS

4.10

EPOCH EPACH ENACH SPODI

or

Velston 1.0

POLYSILICON TO DIFFUSION

Htnimum polysilicon gate extension 3

um

Hinimum source or drain beyond gate 4

um

Hinimum spacing polysilicon to diffusion 1

um

4.11

OPOCU ODICU OHECU SCUCH

CUTS TO

Minimum Minimum Minimum Minimum

POLYSILICON, DIFFUSION AND HETAL

polysilicon overlap of cuts 2

um

diffusion overlap of cuts 2 y.

metal overlap of (all) cuts.. ..., 2

um

spac i

ng

cu

ts to

ga

t,e 3

um

38'

(14)

r,N{prRAN

n - (rv)

Design rufes 3u

CHOS

4.8

ONIDI SNIDI

Version 1.0

N+IHPLANT TO DIFFUSION

Minimum N+implant ovei'IaP of Hinimum spacing N+implant to

IEEE 4o9l

N+.. 2

unr

P+.. 2

um

4.9

OPWNA SNGPW SPAPW

P-WELL

TO

DIFFUSION

Hinimum P-weII overlap of

N+

Hinimum spacing P-welI Eo

N+

Hinlmum spacing P-weIl Lo

P+

outstde (edge Eo edge is

OK)

lnside P-wel1... 3

um

outside P-welI... 9

um

completely

P-wetl.. ... 9

um

38?

(15)

r,nuprnaN

r, - (rrr)

Design rules 3u

CHOS

4.5

wcu wcu SCUCU :

Version 1.0

CUTS

Cuts t,o polysilicon or diffusion. Size 3

um

x 3

um

Cuts Eo substrat,e. Size 3

um

x 3

um

Or if P+ to N+ butting conLact. g

um

x 3

um

Hinimum spacing 3

um

=3

or

=B

-+

4.5

WME

SHEHE

I H | t| ^

I t3t tt'r

a

cJ

I.IETAL

Minlmum

Hinimum

4um

3um

I

4.7

BONDCUTS

WPR : Size for probing cuts... 15

um

x 15

um

SPRPR

: Hinimum spacing probin! cuts ZS

um

WBO : Size for bonding cuts ..130

um

x 130

um

SBOBO

: Hinimum spacing bondcuts. . 130

um

OI'IEBO

: Hinimum metal overlap of bondcuts 10

um (

See sect

i on

5.5 for figures)

3E;

lr

(+

4

"3

j

width

sPac i n9

lnee aogl

(16)

IEEE 40el LarlPrniuq

r - (rr)

' Deslqn

4.3

WPO SPOPO

4.4

WNI

SNINI

rules 3u

CMOS

Version 1.0

POLYSILICON

Hinimum

v{idt,h

Hinimum spacino

N+IMPLANT

Hinimum width

Hinimum spacing

.

...

t?

l

'?

I

rl ls

l b.-

3um 3um

5um 3um

I

L J

3

8.;

(17)

IEEE 4o9l LAilPIMN F

4.

DESIGN RULES

OF

THE

E15G

PROCESS

4.1

wPw

:

SPWPW :

P-WELL

l'l1n i mum P-we I

I Hinimum

P-we11

for wells at di

dimension

Lo

P-weI

1

spac i ng f f

erent pot,entials.

. .

4.2

WDI SPDPI) SNDND SNDPD

DIFFUSION

Hinimum widt,h

5um 15

um

um um um 3 3 4

or

Hinimum spacing

Hinimum spacing N+ to

P+

(+4

a

II

38t

(18)

IEEE 4oe]

LAIUPIMN E

PROCEDURE

ax (x :

coordinate)

PROCEDURE

ay (y :

coordinate)

PROCEDURE branch

PROCEDURE

cell.ref

( refnane, cellnane, lnstnarne

:

strtype ) PROCEDURE

defcell

(name

: strtype)

PROCEDURE drawxy

( x,y :

coordinate;

transformatlon : strtype)

PROCEDURE dy

(y :

coordinate)

PROCEDURE dx

(x :

coordlnate)

PROCEDURE endb

PROCEDURE endcell

PROCEDURE

getrefvire

(name

: strtype)

PROCEDURE

lnet

(nane

: strtype)

PROCEDURE laJrer (nane

:

etrtype)

PROCEDURE outform (output_format

: strtype)

PROCEDURE

port (attrlbute :

etrtype)

PROCEDURE procesa (name

: strtype)

PROCEDURE

ref

(name

: strtype)

PROCEDURE

ufd

( Etart_of_ufdname

:

etrtype ) PROCEDURE

vlrexy (x,y :

coordlnate)

FUNCTION

getrefx

(na.me

: strtype) :

coordlnate;

FUNCTION

getrefy

(name

: strtype) :

coordlnate;

Ra.1ah

Q.5(c)

"PAC Procedure Declarattons"

38$

(19)

LAI{PIRAN D

UDD

Key

:

F-rS{rBrFl

lEFTffil

Key

:

Output : Q

Inputs :' A,D

leee aogJ

a

A,8,C,D Metat2 (t0.um)

Poly B ttn)

Rdah Q.5 (a)

IT#I'FfifiN

Filffil

MeLal? (to tm/ Output

Poly G td Inputs

Raiah Q.I( b)

3re

(20)

W

S\l^t

t!',lrW

H?-LI+

.-- /* ,^,

'

J{rsr1'r-7/ - ^ /Vll\ l+boo?tll-

SVIA

H b

oqthr

(q)

r'b- qBfBu'

T88

{.,?'J + l.g S-r:)VJ-s{a T SV'A I=SJ--lo Arse 10 JJlq o-l fr lvraY{ JtSr{r'ra?

6l-.C*o :I -1VrAW e-r- Slr3xt,rqr llf rol=nr

h-C.r

o

= -1Y.L3W qt afN SICD

-ti)\dJ-l.lo2

-1VreV{

N

t aer.dgs# srv Stt?\al!

-DaFrod

(l-.rc.o T. -lvl?w = <+3)J-e{) {trb Y\'tltM

3-1!

I

S3rwEd 5panrs -[ar"lo> lhrtll lt3Jgn

-laNHVh?

btrttlD\M

o

a

a t

a

,rVilUV S0l,ll lVI3hl 3lBn00

I

I lr;l

ll,l

fFit')

o D D I o n o D

C

f

o-l

;1

I

O

D

tl tl

tl

o !

t-t rl

tl

r-l o

I

I D D l- ! n -

II

tr

=[ tN l- - t l n D n ! n ! ! o

l. ldt

I \ l.

il

,I

L

I

D

n o D

D

o D

LJ

l-[!i arrl

) l!

l )

I

tl

tl

D

!

D DIII

n

L J L

! !

tJ

D

't

# ! D

D

o

D

ii

r'1t_,

,o

.t 'l

D

D D n

t-'l

o il r

p

I {

I

n n

tl tl

t-l D

ll

U

D

D

tr

I

D

t-l ti

r-r I C --l

r

lllq

-,Jl

I

ll

r

I

I

I I

_]ITJ T'JIt

tti'r {e

-+-

I

C

rt o C 'al

C

I

D

C

ld/, dl.t

)J,\

,l,\1

II

-ry.

tr'il I leor

gssl

1A

13l-{NVH" br.trtrrl.'r

C NVIIIdWVT

Referensi

Dokumen terkait

Apakah makna suhu tinggi di dalam c i Nyatakan Hukum Fick I ii l{yatakan Hukum Fick II a Iluraikan proses seperti berikut: 2ol1oo 2o/1oo 2o/1oo 10/ 1oo 2.. proses

30 markah b Anda dikehendaki merekabentuk satu pengawal dengan menggunakan pengawal logik boleh aturcara bagi satu proses pengecatan papan seperti dalam Rajah 1b... tQK309/4 Apabila