• Tidak ada hasil yang ditemukan

Karakterisasi Lapisan Film Tipis GaAs Yang Ditumbuhkan Dengan Metode MOCVD Di Atas Substrate Ge

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2017

Membagikan "Karakterisasi Lapisan Film Tipis GaAs Yang Ditumbuhkan Dengan Metode MOCVD Di Atas Substrate Ge"

Copied!
2
0
0

Teks penuh

Referensi

Dokumen terkait

Bentuk morfologi film tipis dianggap baik jika mempunyai struktur film yang homogen, dengan kata lain terdapat banyak atom pada permukaan substrat sehingga film

Film tipis tantalum oksida telah berhasil ditumbuhkan pada substrat Si (100) dengan proses penumbuhan larutan kimia pada 0,5 M larutan Ta2O5 dan

Manfaat penelitian ini adalah untuk mengetahui struktur mikro, struktur kristal dan sifat listrik film tipis CdTe:Cu yang ditumbuhkan di atas substrat ITO dengan metode dc

FILM TIPIS RUTILE CO-TiO 2 YANG DITUMBUHKAN DENGAN TEKNIK MOCVD : PENGARUH SUHU ANIL TERHADAP STRUKTUR KRISTAL.. Film tipis Co-TiO 2 telah ditumbuhkan dengan teknik Metal

Hasil pengukuran resistivitas Hall film tipis TiO 2 -Co, yang ditumbuhkan seperti yang diterangkan di atas dan yang diukur pada suhu ruang, sebagai fungsi H ditunjukkan pada Gambar

Manfaat penelitian ini adalah untuk mengetahui struktur mikro, struktur kristal dan sifat listrik film tipis CdTe:Cu yang ditumbuhkan di atas substrat ITO dengan metode dc

Ini artinya film tipis CdTe yang ditumbuhkan dengan daya plasma 25 W hanya mampu mengabsopsi cahaya pada panjang gelombang lebih kecil 350 nm sehingga kurang sesuai untuk

atau nilai magnetik remanen yang tinggi. Dari keseluruhan film tipis yang ditumbuhkan dengan struktur permukaan sebagaimana diperlihatkan pada gambar 1b, 3b, 5b, dan 7b,