Evaluasi Pengujian Lanjutan Klon Karet Irr Seri 200 Pada Masa Tanaman Belum Menghasilkan
Teks penuh
Gambar
Dokumen terkait
Tujuan penelitian adalah untuk mengetahui tingkat ketahanan klon IRR seri 200 tanaman karet (Hevea brasiliensis Muell. Arg.) terhadap penyakit gugur daun
[r]
Parameter yang diamati pada penelitian ini yaitu pertumbuhan lilit batang TBM yang diukur dari TBM-1 sampai dengan TBM-4, tebal kulit dan anatomi kulit (jumlah cincin
3DUDPHWHU \DQJ GLDPDWL SDGD SHQHOLWLDQ LQL \DLWX SHUWXPEXKDQ OLOLW EDWDQJ 7%0 \DQJ GLXNXU GDUL 7%0 VDPSDL GHQJDQ 7%0 WHEDO NXOLW GDQ DQDWRPL NXOLW MXPODK FLQFLQ SHPEXOXK ODWHNV
Dari seluruh klon IRR seri 100 yang diuji, IRR 100 dan IRR 104 memiliki ketahanan yang baik terhadap ketiga patogen penyebab penyakit gugur daun pada karet dengan tingkat resistensi
Parameter yang diamati pada penelitian ini yaitu pertumbuhan lilit batang TBM yang diukur dari TBM-1 sampai dengan TBM-4, tebal kulit dan anatomi kulit (jumlah cincin
Penggunaan klon karet unggul yang resisten merupakan salah satu strategi pengendalian yang murah dan ramah lingkungan (Rahayu et al ., 2005)... Usaha yang dapat dilakukan untuk
Dari seluruh klon IRR seri 100 yang diuji, IRR 100 dan IRR 104 memiliki ketahanan yang baik terhadap ketiga patogen penyebab penyakit gugur daun pada karet dengan