77 Pengujian yang akan dilakukan disini
sebagian besar adalah pengujian saat ada tegangan kerja (pada suatu rang- kaian), sehingga jika ada kerusakan pada suatu rangkaian, tidak tergesa- gesa melepas solderan suatu kompo- nen tapi bisa dilakukan pengukuran terlebih dahulu untuk meyakinkannya.
● Tegangan maju dioda silicon, ger- manium, Schottky, tunel, dan ze- ner harusnya tidak lebih dari 1,1V (dalam rangkaian). Tetapi bila lebih dari nilai tersebut menandai ada- nya dioda terbuka, yang harus di- lepaskan, diuji, dan diganti.
● Jika suatu dioda mengalirkan arus tetapi drop tegangan dioda nol a- tau hanya beberapa milivolt, berarti dioda hubung singkat. Pindahkan, uji, dan ganti.
● Dioda penyearah yang hubung singkat dapat merusak dioda lain , kapasitor filter, dan trafo daya, ma- ka harus dicek sebelum memberi- kan catu daya.
● Transistor yang menunjukkan te- gangan maju basis-emitter lebih dari 1,1V (basis positif untuk NPN, basis negatif untuk PNP) mempu- nyai junction base-emitter yang terbuka dan harus diganti.
● Transistor yang telah melewati ta- hap pengetesan dapat diputuskan bahwa transistor tersebut dalam keadaaan baik. Cara pengetesan- nya sbb:
2.6. Pengujian
78
Short Short
VRC drops
Vcc
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Short 1
Vcc
Short 2
1. Rise 2.Drop
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Gambar 2.56(c): Jika dua transistor diparalel, ke- dua-duanya harus dioff- kan untuk mengamati tu- runnya VRC.
Gambar 2.56(d): Jika tran- sistor dihentikan pemberian bias-nya dan VC = VCC, resis- tor ditambahkan dari VCC ke basis untuk mengonkan transistor . Hitung R untuk memastikan bahwa IB< 1 mA untuk sinyal yang kecil dan IB< 100 mA untuk transistor daya. Penambahan RB
menyebabkan VC turun.
Gambar 2.56(e): Jika basis diatur secara langsung oleh transistor, maka diperlukan meng-off-kan Q1
sebelum Q2 dapat diuji oleh meto- da ( a) atau ( d).
Vcc
1 Vp-p 1F . 100 0
Daniel L. Metzger, 1981, 465
Gambar 2.56(f): Pada rangkaian transistor aktif, sinyal kolektor terbalik dari sinyal basis walau pun distorsi. Jika penurunan te- gangan kolektor ketika tegangan basis naik, dan sebaliknya, pada dasarnya transistor berfungsi.
Vcc
VCE
drops RB
RC mA
Vcc 1
mA Vcc 100 Small Signal
High power
RB
RB
Sedangkan pengetesan transistor tanpa bias dapat dilihat pada BAB 4
79
● Kerusakan FET seringkali ditan- dai dengan adanya tegangan gate yang tidak normal.
Pentrigeran gate ditentukan dari jaringan resistif yang sederhana dan tegangan yang diharapkan dapat dihitung, karena untuk FET yang baik memiliki IG = 0 (arus pada gate = 0), seperti yang di- tunjukkan pada Gambar 2.57.
Jangan lupa efek beban pada meter. Deviasi yang besar dari VG yang diinginkan menunjukkan arus gate mengalir. Jika FET tersebut merupakan FET insu- lated-gate, itu artinya FET terse- but rusak. Hal itu terjadi jika sam- bungan pada FET rusak, atau diberi trigger maju pada gate- source. Periksa tegangan VGS
0.6V.
15 V dc
+20 V
10
10
10
+18 V
Rin =
VG = V 6V 15 18 5
VG 0f 15V-shorted gate
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.57: Pengetesan FET
● Tes beda phase dapat digu- nakan Gambar 2.56 (f) .
● Junction FET dapat dites di- luar rangkaian dengan ohm meter antara gate dan source (R kecil pada satu polaritas dan R besar jika sebaliknya).
Dengan menghubung singkat kan gate-source, resistansi beberapa ratus ohm antara drain-source, polaritas mana- pun.
● FET insulated-gate dapat di- periksa untuk substratesource dan untuk resistansi gate- source. Resistansi drain- source (gate dihubungkan ke source) harus berkisar dari beberapa ratus ohm untuk jenis depletion dan tak hingga untuk jenis enhancement.
● SCR yang ON harus menun- jukkan tegangan 0,1V hingga 1,5V antara anoda dan kato- danya atau ketika konduksi anoda-katoda positif. SCR rusak hubung singkat bila te- gangannya mendekati nol.
● VGK seharusnya tidak pernah di atas +1,2V saat ada tega- ngan kerja. Jika terjadi, ber- arti gate rusak terbuka.
● Terjadinya hubung singkat antara gate-katoda menye- babkan SCR tetap ditrigger, melewatkan tegangan positif dari anoda-katoda seperti pa- da gambar 2.58. Jika tega- ngan positif tidak muncul saat diberi sinyal sinus antara ano- da dan katodanya, berarti be- ban terbuka atau SCR yang hubung singkat.
2.6.3. FET
2.6.4. S C R
IG
80 C R O m e
nunjukkan
½ gel. +
Short
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.58: Pengetesan SCR
● Dengan Ohmmeter seharusnya SCR menunjukkan hubungan se- perti sebuah dioda antara gate- katoda (satu polaritas hambatan- nya kecil dan sebaliknya), dan hambatan amat besar (terbuka) untuk kedua polaritas anoda-ka- toda. Lihat gambar 2.59.
Selalu besar untuk s e mu a p ol ar i t a s Ohmmeter
Hubungan dioda
Gambar 2.59: Pengetesan SCR dengan Ohmmeter
Dengan Ohmmeter dapat juga di- lakukan sebagai berikut: polaritas + Ohmmeter ke anoda SCR dan satunya lagi ke katoda menunjuk- kan harga besar sekali, kemudian dalam kondisi demikian hubung-
Kan sebentar colok pada a- noda (tanpa terlepas dari anodanya) ke gate, maka penunjukan Ohmmeter akan kecil (beberapa puluh Ohm).
2.6.5. U J T
● Biasanya rusak karena te- gangan emiter tidak dapat mencapai tingkat penembak- an atau karena rangkaian pengisian memberi terlalu banyak arus sehingga UJT menahannya.
● Sebaiknya kaki emiter tidak disolder dan ukur VC seperti yang ditunjukkan pada gam- bar 2.60. Jika tegangan ter- sebut tidak lebih dari 0,85VB2
periksa rangkaian pengisian dan C. Selanjutnya, hubung- kan milliameter dari C ke B1.
Jika arus melebihi spesifikasi arus lembah UJT, maka rangkaian pengisian membe- ri banyak arus, sehingga UJT on.
I v
Vcc
Daniel L. Metzger, 1981, 468
Gambar 2.60: Rangkaian osilator sebagai pengetes UJT.
81
● Sejumlah masalah dapat diketahui dengan pemeriksaan jalur PCB me- miliki resistansi mendekati nol.
Ohmmeter dengan skala Rx1 dapat digunakan untuk ini.
● Dengan alat penguji yang dapat di- dengar seperti gambar 2.61 mata dapat terus mengawasi rangkaian.
Gunakan penunjuk jarum untuk me- nembus lapisan oksida yang mem- bentuk isolator, dan pastikan bahwa instrumen yang diuji sedang mati.
Berikut adalah beberapa kemungkinan tempat-tempat untuk kerusakkan ke- sinambungan :
9 Dua ujung kabel (konduktor atau ko- nektor yang patah).
9Kaki IC dan jalur rangkaian pada PCB menjadikan koneksi yang tidak baik, terutama jika IC menggunakan soket.
9 Dua ujung jalur yang panjang dan ti- pis pada PCB.
9 Kontak saklar atau relay yang di am atau bergerak (kontak saklar yang bengkok, patah atau berkarat).
Gambar 2.61(a) sampai (c) menunjuk- kan distribusi tegangan pada rangkai- an seri di bawah keadaan normal, kondisi hubung singkat, dan terbuka.
●Untuk mengetrace rangkaian seri yang hubung singkat atau terbuka, dengan osiloskop atau voltmeter dari ground ke A, gerakkan ke B, C, D, E, dan F. Tegangan yang menge- drop hingga menuju tegangan nol diamati pada titik F.
470 100 47
01F .
0 0.01F
G
Daniel L. Metzger, 1981, 469
Gambar 2.61: Alat Tester