METODA DISEMINASI STANDAR NASIONAL V DC BERBASIS PJVS KIM DENGAN KETELITIAN SAMPAI DENGAN 0,2 PPM

METODA DISEMINASI STANDAR NASIONAL V

DC

BERBASIS PJVS – KIM

DENGAN KETELITIAN SAMPAI DENGAN 0,2 PPM

Hadi Sardjono

Sub-Divisi Metrologi Kelistrikan, Puslit KIM – LIPI, Serpong e-mail:hadisarjono@kim.lipi.go.id

Diajukan: 22 Februari 2010, Dinilaikan: 22 Februari 2010; Diterima: 12 Juli 2010 Abstrak

Secara teknis, keberadaan sebuah PJVS (Sistem Tegangan Josephson) menjadikan kompetensi Laboratorium Metrologi Kelistrikan – Puslit KIM-LIPI dibidang VDC meningkat dan setara dengan Laboratorium Metrologi Internasional. Mulai saat ini, proses diseminasi VDC standar dapat dicapai dengan proses interkomparasi dari standar primer berbasis definisi Quantum ke standar sekunder berbasis sel elektronik. Proses diseminasi telah dibangun dalam penelitian ini dan membuktikan bahwa metode diseminasi ditempat bisa menghasilkan ketidakpastian pengukuran lebih kecil dibandingkan dengan metode diseminasi tidak ditempat (NPL – United Kingdom) yaitu masing masing sebesar 0,2 ppm dan 0,4 ppm.

Kata kunci: Metode diseminasi, sistem tegangan Josephson terprogram, standar tegangan listrik dc, ketidakpastian.

Abstract

The Method of National Standard PJVS Based VDC – KIM with Accuracy up to 0.2 ppm

Technically, the availability of a PJVS (Programmable Josephson Voltage System) made an improvement on the competence of Electrical Metrology Laboratory of Puslit KIM – LIPI in Vdc unit and in a level to the International Metrology Laboratory. Now on, the dissemination process of Vdc standard can be achieved by an inter-comparison process of the primary standard based on of the Quantum definition to the secondary standard based on the electronic cell. The dissemination process has been built in this research and proved that the measurement uncertainty of on place dissemination method is lower than that of not on place or abroad (NPL – United State) method, which are 0,2 ppm and 0,4 ppm respectively.

Keywords: Dissemination method, programmable Josephson voltage system, dc voltage standard, uncertainty.

1. PENDAHULUAN

Sampai saat ini, perkembangan dunia metrologi kelistrikan khususnya pada satuan VDC

Sejak tahun 1980, nilai satuan V yang berbasis teorema kuantum secara teknis operasional telah mengalami perubahan yang cukup signifikan. Kemajuan tersebut merupakan ukiran sejarah sehingga dapat dikatagorikan kedalam dua era yaitu konvensional dan modern. Masing-masing era pada umumnya diwakili oleh kualitas Sistem Tegangan Josephson dengan ketidakpastian 0.005 ppm dan 0.05 ppm.

DC di laboratorium metrologi kelistrikan Puslit KIM-LIPI telah direalisasikan berdasarkan sejumlah sel standar baik yang bertipe kimia maupun elektronik (solid state). Kemudian dari tahun 2007 sampai sekarang formasi individu sel digantikan hanya dari sel standar yang bertipe elektronik. Ketelitian nilai rata-rata yang diperoleh dan diperuntukan sebagai standar

Nasional VDC

Adalah sebuah program yang didukung oleh sebuah proyek bantuan Bank Pengembangan Islamik (Islamic Development

Bank/IDB) maka Puslit. KIM – LIPI dapat

merealisasikan sebuah Sistem Tegangan Josephson Terprogram (PJVS-KIM)

ini dipelihara dengan cara melakukan sebuah proses kalibrasi ulang sebuah sel standar transfer ke sebuah lembaga metrologi nasional luar negeri seperti Australia (NMIA). Proses kalibrasi ulang ini selain membutuhkan waktu yang cukup lama (maksimum 1 tahun), mengurangi biaya pemeliharaan ketelitian juga menurunkan kualitas nilai akibat drift pada proses ekspedisi.

1)

. PJVS-KIM ini telah disertifikasi berdasarkan standar acuan sebuah sistem tegangan Josephson (JVS) konvensional dan menghasilkan validasi dengan nilai ketelitian sebesar 0.054 ppm pada rentang tegangan 10 V 2)

Secara bagan keterkaitan (traceability

chart), adalah selayaknya bahwa PJVS-KIM

diposisikan sebagai standar primer (standar acuan tertinggi) dibidang Vdc sehingga adalah seharusnya dapat dipergunakan untuk memelihara ketelitian sel standar sebagai standar sekunder yang pada umumnya memiliki tingkat ketelitian 2 ppm. Menurut standar MILL nilai rasio ketelitian sebesar 1 : 20 diatas dapat memvalidasi sistem diseminasi ketelitian nilai standar sekunder pada khususnya dan dapat memperkokoh sistem keterkaitan (traceability) dibidang Vdc secara keseluruhan pada umumnya.

Pada akhirnya, proses pemeliharaan ketelitian sel standar menjadi lebih efektif karena faktor rugi-rugi akibat perjalanan dapat ditiadakan dan lebih efisien karena mengurangi biaya eskpedisi faktor serta waktu diseminasi menjadi lebih singkat. Dari hasil penelitian menunjukkan bahwa efektifitas dapat meningkatkan ketelitian sebesar 0,2 ppm dari 2,1 ppm dan efisiensitas waktu kalibrasi dari 12 bulan menjadi 2 minggu. Dengan demikian dapat disimpulkan bahwa dengan tercapainya tingkat efektifitas seperti tersebut diatas maka tingkat kompetensi laboratorium metrologi kelistrikan Puslit KIM-LIPI dibidang VDC, secara teknis bertaraf internasional dan secara bagan keterkaitan menjadi utuh (dari standar definisi sampai ke standar kerja berada didalam kemampuan laboratorium).

2. PRINSIP DASAR PJVS-KIM

Efek Josephson yang melandasi pembangkitan tegangan listrik searah (VDC) ditentukan oleh penghasutan (excitation) daya pada frekuensi gelombang mikro (f). Oleh karena itu dapat dikatakan bahwa kualitas frekuensi gelombang mikro ini menentukan kepresisian tegangan yang dibangkitkan.

2.1. Prinsip Dasar Pembangkitan VDC oleh PJVS.

Josephson Junction Arrays (JJA) dibagi kedalam sejumlah deret tertentu yang proposional dengan 2n (lihat gambar 1). masing-masing lapisan (junction) dihubungkan dengan arus bias (I). Untuk menghasilkan tegangan listrik V, dimasukkan nilai Ki (i = 1, 2, 3, …, n) kedalam persamaan berikut ini:

) 2 . ... 2 . 2 . ( . 2 . 1 1 0 0 n n out K K K e f h V = + + + ………1) dimana, Ki = -1, 0 ,+1 h = konstanta Plank f = frekuensi operasional (16 GHz) e = muatan elektron Jaminan Mutu

Gambar 1 Rangkaian Dasar Josephson

Junction Arrays (JJA)

Dimana:

Io,I1, …, In: arus bias pada deretan jungsi jungsi (JJA atau Josephson Junction Array),

20 JJA, 21 JJA, …, 2nJJA: jumlah jungsi pada kelompok 1, 2, 4,..,n yang dialiri oleh Io,I1, …, In.

Sebuah operasional konverter digital ke analog hanya membangkitkan tegangan listrik diskrit sebagai Vout (lihat Gambar 2).

Gambar 2 Pembangkitan Tegangan Listrik V

Dimana:

0 Ki

+V

: tingkatan (step) jungsi ke i (posisi Platto) i

-V

: amplitudo tegangan polaritas + jungsi ke i i: amplitudo tegangan polaritas - jungsi ke i

Pengaturan eksitasi frekuensi gelombang medan yang halus dapat menghasilkan tegangan listrik V0 yang kontinyu. Jumlah JJA

X

X

X

X

X

X

X

X

X

X

X

2

0

JJA

2

1

JJA

2

2

JJA

2

n

JJA

I

0

I

1

I

2

I

n

V

+

-K

i

=

K

i

=

K

i

=

telah dirancang sesuai dengan masing-masing

channel (lihat Tabel 1).

Pembangkitan VDC standar berdasarkan aplikasi frekuensi gelombang mikro sebesar 15.9 GHz <= f <= 16.1 GHz dapat dihitung dengan menggunakan formulasi:

V = fxNjj/Kj-90 mV ...(2) = 68 x N ( -157 <= N <= 157) mV dimana, Njj = 2048 x N

Tabel 1 Formasi JJA sebagai Fungsi dari Pembangkitan Standar Tegangan Listrik dc 3)

No. Ch Njj(jml. JJA) V=f.Njj/Kj-90(mV)

ftipikal=16 GHz No. Ch Njj(jml. JJA)

V=f.Njj/Kj-90(mV) ftipikal=16 GHz 1 2048 68 13 20480 678 2 2048 68 14 20480 678 3 2048 136 15 20480 678 4 8192 271 16 20480 678 5 8192 271 17 20480 678 6 8192 271 18 20480 678 7 8192 271 19 20480 678 8 8192 271 20 20480 678 9 8192 271 21 20480 678 10 8192 271 22 20480 678 11 10240 339 23 20480 678 12 10240 339 24 20480 678

2.2. Prinsip Dasar Sel Standar Elektronik

Gambar 3 Prinsip Dasar Pembangkitan VDC Sel Standar Elektronik

3. Diseminasi /ketelitian Standar VDC

Dua metoda diseminasi yang akan diketengahkan didalam penelitian ini yaitu metoda diseminasi nilai acuan VDC berdasarkan metode PJVS-KIM dan diseminasi nilai acuan VDC berdasarkan metode Standar Transfer. 3.1. Proses Diseminasi VDC

Metoda ini direalisasikan dengan sebuah sistem pengukuran yang disebut metode ‘NOL’ (lihat gambar 4). Pada metoda ini akan diperoleh nilai

selisih (different value) V

Berbasis PJVS-KIM

DC yang terbaca oleh DVM yang dinotasikan sebagai Vdvm yaitu sebesar formulasi berikut:

Vdvm = VP – VZ + VOff

.………...(3) Dimana:

VP: nilai VDC V

yang dimiliki oleh PJVS-KIM Z: nilai VDC

V

yang dimiliki oleh sel standar (diode

Zener).

Off: nilai VDC Offset

Output 1 V dan 10 V Pengisi

Batere

Elektronik Pendukung

12 V

Pengontrol

Oven

Module Acuan Input 220 V (50 - 60)

Hz

Pelaksanaan pengukuran dilakukan berdasarkan rangkaian berikut ini:

Gambar 4 Rangkaian Pengukuran Prose Diseminasi Berbasis PJVS-KIM Ketika proses pengukuran berlangsung,

sistem pengukuran akan mengatur tegangan listrik PJVS-KIM secara otomatis (secara

software) sehingga nilai absolut DVM (Vdvm)

terminimalisir. Beda tegangan listrik antara tegangan listrik sel standar (VZ) dan tegangan listrik PJVS-KIM (VP

Nilai offset voltmeter dan / atau tegangan listrik termolistrik membangkitkan tegangan listrik

offset (V

) dapat di monitor dengan besar nilai sesuai yang ditunjukkan pada persamaan (3).

Off

- Normal: V

) pada tahanan depan kawat (wire

lead). Untuk menanggulangi tegangan listrik offset, dilakukan sistem pengukuran membalik

polaritas pada beda tegangan listrik yaitu dari sistem pengukuran normal (lihat persamaan 4) ke sistem pengukuran reverse (lihat persamaan 5) dan sebaliknya yaitu:

dvmN = VP – VZ + VOff

- Reverse: VdvmR = -VP + VZ + VOff Cara membalik polaritas dilakukan dengan dua cara yaitu,

…………(4)

- Membalik polaritas Zener Vz dimana pemilihan polaritas dilakukan dengan menggunakan kontak pilih otomatis atau manual.

- Membalik polaritas arus bias PJVS-KIM Dengan pembalikan polaritas pengukuran tersebut maka kedua persamaan diatas dapat disederhanakan sehingga dapat diperoleh persamaan baru yaitu:

VdvmN - VdvmR = 2 (VP – VZ V ) Z = VP

2

dvmR dvmN

V

V

−

- ...(5)

Persamaan (5) dapat disederhanakan menjadi persamaan (6) sebagai berikut:

VOff

2

dvmR dvmN

V

V

+

= ...(6) VZ dalam persamaan (5) adalah nilai hasil kalibrasi tegangan listrik dc sel standar yang diperoleh dengan menghitung tegangan listrik PJVS-KIM dan pembacaan (memonitor) tegangan listrik (VdvmN dan VdvmR). VP ditentukan dalam kepresisian tinggi dan metode “NOL” meminimalisir kesalahan pengukuran karena pengabaian nilai VdvmN dan VdvmR

Pengukuran normal  reverse  normal  reverse adalah pengukuran satu siklus dan nilai V

yang kecil.

Z ditentukan dalam setiap siklusnya. Sistem mengulang siklus pengukuran dan menghitung nilai rata-rata pengukuran-pengukuran VZ. nilai rata-rata adalah hasil akhir dari kalibrasi VZ

Hasil pengukuran sel standar transfer pada Mei 2009 berbasis PJVS-KIM dengan sejumlah 8 data yang masing masing dinyatakan dengan E . 1 sampai dengan E7 E adalah: 1 E = (9.999979982 + 0.0000001962)V 2 E = (9.999981160 + 0.000001056)V 3 E = (9.999980562 + 0.000001690)V 4 E = (9.999979648 + 0.00000007388)V 5 E = (9.999977591 + 0.0000001329)V 6 E = (9.999977433 + 0.000000135)V 7 E = (9.999977905 + 0.000000101)V 8

Sedangkan hasil pengukuran sel standar transfer pada Mei 2007 berbasis JVS-NIST adalah:

= (9.999977752 + 0.00000006277)V

ESertifikat2007 = 9.999999 V +

Drift tegangan selama satu tahun sebesar

1.8 ppm dan ketidakpastian selama satu tahun sebesar 0.5 ppm, dengan demikian maka nilai

4.1 µV. X Zener DVM VZ VP Vdvm VOffset Polarity reverse switch (-10V/+10V) PJVS-KIM (-10V/+10V)

sebenarnya dan ketidakpastian pengukuran pada Mei 2008 adalah sebesar:

Tabel 2 Budget Ketidakpastian4) Pengukuran Berbais PJVS – KIM Range 10 Volt Komp. Ketidak-pastian Unit Distribu-si Simbol Ketidak-pastian Lanjutt/ U Faktor caku-pan Derajat Kebebasa n/vi Ketidak-pastian Std./ui Koef. Sens/ ci ci.ui (ci.ui) 2 (ci.ui) 4 /vi Repeat-ability µV Normal u1(X) 0,34 2,24 5 0,15 1 0,15 0,024 0,0001 Ref. Std. µV Normal u2(X) 0,05 2 60 0,03 1 0,03 0,001 0,0000 Res. (platto) Std µV Normal u3(X) 0,05 1,73 1E+99 0,03 1 0,03 0,001 0,0000 Stabili-tas Freq. µV Rect u4(X) 0,0005 1,73 6E+01 0,0003 1 0,00 0,000 0,0000 Connec

tors µV Rect u5(X) 0,0001 1,73 1E+99 5,77E-05 1 0,00 0,000 0,0000 Sums 0,025 0,0001 Combined uncert, uc 0,159 µV Eff. Deg of freedom, veff 6 Cov. Factor for 95% CL 2,49

Expanded uncertainty, U 95 0,39 µV 0,039 ppm

3.2. Proses Diseminasi Vdc Berbasis Sel Standar Transfer (TStd)

Untuk menghindari adanya aliran arus dalam rangkaian pengukuran biasanya digunakan metoda kompensasi atau metoda “NOL” dengan menggunakan sebuah instrumen scanner. Posisi pengukuran antara E_{A dan EB diatur oleh}

scanner dimana sel standar yang diketahui nilai

emf-nya sebesar ETStd dengan sel standar yang emf-nya belum diketahui sebesar EStd

AB

δ

terhubung sehingga selisih tegangan terukur oleh nano voltmeter (DVM) sebesar . Masalah yang timbul pada pengukuran tegangan kecil adalah adanya tegangan atau thermal voltage, yang timbul pada setiap sambungan kawat sebagai akibat dari efek Seebeck. Dalam keadaan seimbang (balance) maka persamaan menjadi:

O AB OS OS OX OX AB TStd Std E e e e e e E − =−

δ

− − ' − − ' =−

δ

−Σ ...(7) dimana: Σ e_O

Untuk menghindari adanya tegangan thermis perlu dilakukan komutasi dengan cara

membalik polaritas scanner, sehingga persamaan menjadi:

: jumlah aljabar dari tegangan - tegangan thermis (thermal voltage).

O AB OS OS OX OX AB TStd Std

E

e

e

e

e

e

E

+

=

+

δ

+

+

'

+

+

'

=

δ

+

Σ

...(8) Apabila:Persamaan (1) dan (2) digabungkan akan menjadi :

…(3)

Gambar 6 Rangkaian Pengukuran Diseminasi 0 e E EStd − TStd =−δAB−∑ 0

e

E

E

_Std

−

_TStd

=

+

δ

_AB

+

∑

+

AB BA TStd Std

E

E

−

)

=

δ

+

δ

(

2

ETStd Scanner e’o e’o eos e ESt δA DVM

+

+

Metode Transfer StandarSehingga diperoleh persamaan akhir yang bebas dari variabel tegangan thermis Σe_O

2

BA AB TStd Std

E

E

−

=

δ

+

δ

, yaitu: ... (9)

Hasil pengukuran proses diseminasi dari sel standar transfer ke sel standar group (5 buah) menghasilkan (Tabel 3):

Tabel 3 Hasil Diseminasi 1 Sel Standar Transfer ke 5 Sel Grup

Spesifikasi sel standar Nilai Ketidakpastian

Fluke 732B s/n 8440012 10,0000447 Volt ± 0,0000068 V Fluke 732B s/n 8440013 10,0000367 Volt ± 0,0000069 V Fluke 732B s/n 8440014 10,0000351 Volt ± 0,0000069 V Fluke 732B s/n 8440015 10,0000572 Volt ± 0,0000068 V Fluke 7000 s/n 941254611 9,9999985 Volt ± 0,0000068 V Nilai rata-rata : 10,0000344 Volt

Tabel 4 Budget Ketidakpastian4) Pengukuran Berbais Sel Standar Transfer Rentag  volt Komp. Ketdk- pastian Satuan Distri- busi data Simbol Ketdak- pastian Lanjut/ U CF Dof/ vi Ketdk- pastian Std/ ui Koeff. Sens/ ci ci.ui (ci.ui )2 (ci.ui) 4 /vi Repeat 1 µV Normal u1(X) 6,80 2,24 5 3,04 1 3, 04 9,25 17,11 Repeat 2 µV Normal u2(X) 6,90 2,24 5 3,09 1 3, 09 9,52 18,13 Repeat 3 µV Normal u3(X) _6,90 2,24 5 3,09 1 3, 09 9,52 18,13 Repeat 4 µV Normal u4(X) 6,80 2,24 5 3,04 1 3, 04 9,25 17,11 Repeat 5 µV Normal u5(X) 6,80 2,24 5 3,04 1 3, 04 9,25 17,11 Sums 46,79 87,58 Ketdkpastian Gabungan, u 6,84 c Eff. Dof veff 25 CoF utk 95% CL 2,06 Ketdkpastian Lanjut, U 95 14,1 µV

Hasil pengukuran proses diseminasi nilai dari sel standar transfer ke sel standar grup yang berjumlah 5 buah menunjukkan bahwa nilai standar acuan baru 10 V telah diperoleh sebesar 10,0000344 V + 0,0000141 V

4. HASIL DAN PEMBAHASAN

Berdasarkan data hasil pengukuran kedua metode diseminasi yang telah disebutkan diatas berupa nilai nilai individu sel standar maka berikut ini akan dihitung nilai nilai sel standar

berdasarkan individu sel dan grup sel. Masing -masing nilai tersebut dihitung sesuai dengan metode diseminasinya kemudian diuji validasi secara kuantitas berdasarkan nilai En.

4.1 Hasil Pengukuran Sel Standar Transfer Berbasis PJVS-KIM

Pada bulan Mei 2009 ditentukan dengan menghitung sebagai berikut:

Nilai rata rata = (E1+E2+E3+E4+E5+E6+E7+E8 = 9,9999792 volt

Nilai ketidakpastian pengukuran= ui(x)2= u1(x) 2 +u2(x) 2 +u3(x) 2 +u4(x) 2 +u5(x) 2 +u6(x) 2 +u7(x) 2 +u8(x) u 2

i(x)2 = 3.85E-14 + 1.12E-12+ 2.9E-12+5.46E10-14+1.77E10-14 1.82E10 + -14 +1.02E10-14+3.94E10-15 u i(x)= √(0.04+1.12+2.9+0.0055+0.02+0.02+0.01+0.004).E = √4.1E -12 = 2.0 µV -12

Artinya bahwa hasil pengukuran sebenarnya yang dilakukan pada Mei 2009 adalah:

EPJVS-KIM = 9.9999792 V + 2.0 µV

4.2 Hasil Pengukuran Sel Standar Transfer Berbasis EJVS-NIST

Nilai ini disesuaikan hingga Desember 2009 yang dapat ditentukan berdasarkan nilai sertifikat dan spesifikasi teknis setelah 1 tahun berlalu yang terjadi drift 1,0 ppm dengan stabilitas 1,8 ppm. dengan demikian E sesungguhnya menjadi sebesar:

ESertifikat = (9.9999990 V – (1,0 X 10)µV + {√(4.12 + 182 = 9.9999980 V + 20.6 µV

)} µV

Nilai koreksi antara EPJVS-KIM terhadap EJVS–NIST E

adalah sebesar: PJVS-KIM ke JVS-NIST

Validasi dapat dilakukan dengan menghitung nilai E

= 9.9999792 V – 9.9999980 V = - 0.0000188 V

n berdasarkan nilai yang harus dipenuhi sebesar -1 < En < 15)

E yaitu: n ₌ + = + − − − − − 2 2 2 2 000020 , 0 000002 , 0 0000150 , 0 NPL JVS KIM PJVS NPL JVS KIM PJVS U U E E = 72 , 0 0000261 , 0 0000188 , 0 8 0000000006 , 0 0000188 , 0 _{= =−} = (Valid)

Proses analisa ini merupakan langkah teknis sistem pengukuran dalam rangka untuk membangun sebuah bagan keterkaitan (traceability chart) dibidang standar Vdc di Laboratorium Metrologi Kelistrikan Puslit KIM – LIPI.

Gambar 7 Bagan Keterkaitan (Traceability Chart) Vdc Puslit KIM – LIPI

5. KESIMPULAN

Bagan ketertelusuran untuk besaran Vdc yang berbasis Quantum telah direalisasikan di laboratorium Metrologi Kelistrikan Puslit KIM – LIPI (lihat gambar 7). Kemantapan kompetensi

ini telah dibuktikan berdasarkan 2 proses diseminasi 10 V yang masing masing berupa metode komparasi dari PJVSKIM ke standar Transfer dengan ketelitian 0,2 ppm dan dari JVSUK ke standar Trasnfer dengan dengan ketelitian 0,4 ppm tervalidasi dengan nilai Validasi (En) sebesar -0,7. Proses diseminasi

JVSFLUKE-NIST

Sel Standar (Grup) (10,0000344 + 0,0000141) V

Sel Standar Transfer (Tstd) (9.9999792 + 0.0000020) V (2009) Multifunction Calibrator s/d 1100 V Divider Standard 1 : 10 dan 10 : 100 PJVSKIM-LIPI

Sel Standar Transfer (Tstd) (9.9999990 + 0,0000041) V

(2007)

Sel Standar Transfer (Tstd) (9.9999980 + 0,0000206) V

(2009) Validasi

berikutnya adalah dari sel standar Transfer ke grup (5 buah) sel standar diperoleh dengan ketelitian 1,4 ppm (14 µV).

Stabilitas nilai standar diatas perlu dipelihara dengan cara melakukan pengukuran ulang minimal 2 kali setahun agar karakteristik drift dari sel standar dapat terpantau dengan baik.

DAFTAR PUSTAKA

Sardjono, Hadi, (2008), Analisa Kelayakan Realisasi Satuan Tegangan Listrik DC Standar Internasional untuk Puslit KIM-LIPI Berdasarkan Definisi Quantum Dengan Ketelitian dibawah 0.1 ppm,

Jurnal Standardisasi, Vol.10, No.2, Tahun

2008

---, (2009), Pemantapan Standar Nasional tegangan listrik dc (Vdc) berbasis PJVS-KIM (Sistem Tegangan Josephson Terprogram) di laboratorium Metrologi kelistrikan Puslit. KIM-LIPI dengan ketelitian 0.06 ppm, Instrumentasi, 33 (1): Vol.33, No.1, Januari 2009

T. Yamada, H. Sasaki, H. Yamamori, dan A. Shoji, (2008), Demonstration of a 10 V

Programmable Josephson Voltage Standard System Based on Multi-Chip Technique. Supercond. Sci. and Technol

CSIRO,(1995), Using the ISO Guide to the

Expression of Uncertainty in Measurement (GUM), Version 3.3,.

NATA, (1997), Training Course for Assessors of