YBCO テープ線材の交流損失の 温度スケーリング
禅院 康弘
,
宮本 直哉,
岩熊 成卓,
船木 和夫 (九州大学)斉藤 隆
,
飯島 康裕,
柿本 一臣 ((株)フジクラ)塩原 融 (超電導工学研究所)
研究背景
YBCO
テープ線材 高い臨界温度磁界中での臨界電流特性が優れる 次世代の超伝導線材として期待される
超伝導機器に
YBCO
テープ線材を応用することを考える際、超伝導巻線部において発生する交流損失を見積もることが重要
冷凍機による伝導冷却方式により、幅広い温度領域での使用が 予想される
本研究の目的及び内容
YBCO
テープ線材の交流損失を液体窒素温度以下の広い温 度領域で測定し、その温度特性を評価する本研究の目的 本研究の目的
冷凍機による伝導冷却方式により交流損失の測定を行った
臨界電流特性および交流損失を温度に関してスケーリング する方法を検討した
本研究の内容 本研究の内容
交流損失の測定装置・条件及び試料諸元
鞍型ピックアップコイル法 試料諸元
測定条件
1 , 3 , 6
枚 試料積層枚数0.01
〜0.2Hz
周波数30
゜, 45
゜, 90
゜ 磁界印加角度0.001
〜4T
磁界振幅31
〜77K
測定温度交流損失及び磁化の測定結果( 1 枚 ,90 ゜)
10
310
410
510
610
710
810
910
-310
-210
-110
035K 45K 64K 77K
A c L o s s [ J /m
3cy cl e]
Field Amplitude [T]
-250 -125 0 125 250
-2 -1 0 1 2
31K 35K 40K 45K 50K 55K 60K 64K 71K 77K
- µ
0M [T /m
3in S C ]
B [T]
臨界電流特性
0 300 600 900 1200
0 0.5 1 1.5
31K 35K 40K 45K 50K 55K 60K 64K 71K 77K
I
c[A ]
B [T]
ピックアップコイルにより得られる
磁化
M(B,T)
は印加磁界に平行な成分( B B
pe)
( ) ( )
( )
( )
c
c
, sin ,
, sin , sin
2 2
4 m B T
M B T
wh I B T w
I B T
wh h
θ
θ θ
=
= =
(
1
枚,90
゜)( ) ( )
c
4 ,
, sin
h M B T I B T
= θ
臨界電流特性の近似
B < B b
臨界電流はほぼ一定
10 100 1000
0.01 0.1 1
31K 35K 40K 45K 50K 55K 60K 64K 71K 77K
I
c[A ]
B [T]
B
bB b B
Irie-Yamafuji
モデル≤
( ) ( ) ( ( ) )
( ) ( ( ) )
c0 b
c ( ) 1
b
,
TI T B B T
I B T
T B
γB T B
α
− <
≅
≤
ただし、
I
c0:零磁場の臨界電流( ) ( ) ( )
1( )
c0 b
I T = α T B
γ T −T
I c0 , B b 及びγの温度依存性
0 0.05 0.1 0.15
30 40 50 60 70 80
B b [T]
T [K]
0 500 1000 1500
30 40 50 60 70 80
I c0 [A]
T [K]
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
30 40 50 60 70 80
γ
T [K]
( ) T
γ ≅ γ
臨界電流の温度スケーリング
( ) ( )
b 0 c0
B T = k µ I T
0 c0
( ) T b B
µ I
′ =
11 k
γ−′ =
( )
( ) ( ( ) )
( ) ( ) ( ( ) )
c0 b
1 c
c0 b
b
,
I T B B T
I B T B
I T B T B
B T
γ−
<
=
≤
b
( )
b T
B
= B ( ) ( )
c
( )
c
c0
, I B T i b = I T
( ) ( )
( )
c 1
1 1
1 i b b
b
γ−b
<
=
≤
0 0.5 1 1.5
30 40 50 60 70 80
Ic0(T)/I
c0(45K) Bb(T)/B
b(45K)
I c0(T) / I c0(45K) & B b(T) / B b(45K)
T [K]
,
, a
( ) ( )
( )
c 1
1 b k
i b a b
γ−k b
′ <
′ =
′ ′ ≤ ′
45Kの値で規格化した I
c0(T)
およびB
b(T)
の比較※
k
は温度に依ら※ない定数
臨界電流の温度スケーリング( 1 枚 ,90 ゜)
0 300 600 900 1200
0 0.5 1 1.5
31K 35K 40K 45K 50K 55K 60K 64K 71K
I [A ]
c 77KB [T]
0 0.5 1
0 1 103 2 103 3 103 4 103 5 103 31K 35K 40K 45K 50K 55K 60K 64K 71K 77K
I
c(B ,T ) /
I c0(T)B / µ
0I
c0(T)
交流損失の温度スケーリング( 1 枚 ,90 ゜)
10
310
410
510
610
710
810
910
-310
-210
-110
035K 45K 64K 77K Ac L o s s [J /m
3cy cl e]
Field Amplitude [T]
10
310
410
510
610
710
810
910
110
210
310
435K 45K 64K 77K Ac L o s s / µ
0I
c02
(T)
Field Amplitude / µ
0
I
c0
(T)
試料積層時のスケーリングの適用( 90 ゜)
200 300 400 500 600 700 800 900 1000
0.01 0.1 1
45K 1Layer 45K 3Layer 45K 6Layer
I
c[A ]
B [T]
B
b-200 -100 0 100 200
-2 -1 0 1 2
1Layer 3Layer 6Layer
-
µ 0M [ T /m
3in SC]
B [T]
試料を積層した場合にもス ケーリングできるのか
試料を積層することにより
I c0 (T)
、B b (T)
値が変化積層した場合の I c0 及び B b 温度依存性
0 500 1000 1500
30 40 50 60 70 80
1Layer 3Layer 6Layer
I
c0[A ]
T [K]
0 0.05 0.1 0.15 0.2
30 40 50 60 70 80
1Layer 3Layer 6Layer
B
b[T ]
T [K]
I
c0(T)
の温度依存性I
c0(T)
の温度依存性B B
bb((T) T)
の温度依存性の温度依存性積層した場合の I c0 及び B b 温度依存性
I
c0(T,n)
およびB
b(T,n)
を50K
の値で規格化I
c0(T,n)
、B
b(T,n)
は積層することにより値 は変化するが、温度に対する変化率は 変わらない0 1 2
30 40 50 60 70 80
Ic0(T,1L) / I
c0(50K,1L) Ic0(T,3L) / Ic0(50K,3L) Ic0(T,6L) / I
c0(50K,6L) Bb(T,1L) / B
b(50K,1L) Bb(T,3L) / B
b(50K,3L) Bb(T,6L) / B
b(50K,6L)
T [K]
I
c0(T ,n ) / I
c0(50K, n ) & B
b(T ,n ) / B
b(50K, n )
積層した場合の臨界電流及び交流 損失も温度に関してスケーリングで きる 1
枚の場合に測定したI
c0(T,1L)
を用 いて積層した場合の交流損失をス ケーリングできる6 枚積層時の臨界電流の温度スケーリング( 6 枚の I c0 による)
0 250 500 750 1000
0 0.5 1 1.5
35K 40K 45K 50K 55K 64K 77K
I
c[A ]
B [T]
0 0.5 1
0 1 103 2 103 3 103 4 103 5 103 35K 40K 45K 50K 55K 64K 77K
I
c(B ,T ) /
I c0(T,6L)B / µ
0I
c0(T,6L)
6 枚積層時の交流損失の温度スケーリング( 6 枚の I c0 による)
10
310
410
510
610
710
810
910
-210
-110
035K 45K 64K 77K A c Lo s s [ J /m
3cy c le ]
Field Amplitude (T)
10
310
410
510
610
710
810
910
110
210
310
435K 45K 64K 77K A c Los s / µ
0I
c02
(T ,6L)
Field Amplitude / µ
0
I
c0
(T,6L)
試料積層時の交流損失の測定結果
77K 64K 45K
103 104 105 106 107 108
10-2 10-1 100
1 Layer 3 Layer 6 Layer Ac Loss [J/m3 cycle]
Field Amplitude [T]
103 104 105 106 107 108
10-2 10-1 100
1 Layer 3 Layer 6 Layer Ac Loss [J/m3 cycle]
Field Amplitude [T]
103 104 105 106 107 108
10-2 10-1 100
1 Layer 3 Layer 6 Layer Ac Loss [J/m3 cycle]
Field Amplitude [T]
積層枚数が
1
枚のときのI c0 (T,1L)
を用いて スケーリングを行ってみる試料積層時の交流損失の温度スケーリング( 1 枚の I c0 による)
104 105 106 107 108 109
101 102 103 104
45K 1Layer 45K 3Layer 45K 6Layer 64K 1Layer 64K 3Layer 64K 6Layer 77K 1Layer 77K 3Layer 77K 6Layer
Ac Lo ss / µ
0I
c02
(T,1L)
Field Amplitude / µ
0
I
c0
(T,1L)
温度スケーリングを行うために は
I c0 (T,1L)
が分かればよいまとめ
臨界電流および交流損失特性が、試料を積層させた場合や 磁界印加角度を変化させた場合も含めて、
I c0
を用いて温度 スケーリング可能であることを示した。 これまでに提案した磁界印加角度に対する交流損失の予測 式を用いることで
液体窒素温度で磁界印加角度